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Fecha de publicación	Título	Tipo de publicación/ Tipo de recurso	Autor(es)	Fecha de depósito
2010	Aplicación de la microscopia electrónica de barrido de bajo voltaje (LV-SEM) en la caracterización morfológica de materiales compuestos nanoestructurados	Trabajo terminal, especialidad	PAMELA YAJAIRA REYES RODRIGUEZ	10-may-2018