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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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2010 | Aplicación de la microscopia electrónica de barrido de bajo voltaje (LV-SEM) en la caracterización morfológica de materiales compuestos nanoestructurados | Trabajo terminal, especialidad | PAMELA YAJAIRA REYES RODRIGUEZ | 10-may-2018 |