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http://ciqa.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1025/362| Caracterización y análisis de recubrimientos poliméricos en nanopartículas mediante técnicas convencionales de microscopía electrónica de transmisión (CTEM y STEM) | |
| ERIKA ELIZABETH GARCIA PADILLA | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial-SinDerivadas | |
| Análisis y Evaluación de Polímeros | |
| Las nanopartículas son de gran interés en las industrias química, electrónica, optoelectrónica entre otras, su uso es de gran interés debido a las propiedades que ofrecen por su tamaño y alta relación superficie-volumen. Dependiendo del tamaño de las nanopartículas el fenómeno de superficie de resonancia de plasmones puede ser revelado, dado un color específico para un metal determinado. Sin embargo, debido a la alta reactividad de las nanopartículas especialmente en relación con la oxidación, es difícil lograr la estabilización del metal.Contribuyente, por lo que se aplica una capa protectora (recubrimientos de polímeros) para evitar la Qxidación y por otra parte, para estabilizar el tamaño nanométrico de las partículas que son encapsuladas por diferentes compuestos orgánicos.
El rápido desarrollo de la nanotecnología y los nanomateriales ha llevado a la necesidad de modificar la superficie de las nanopartículas para una variedad de aplicaciones, agregando un recubrimiento de una fina película de polímero en la superficie de las nanopartículas, mejorando sus propiedades físicas, químicas, ópticas, electrónicas y biomédicas. Los métodos convencionales de recubrimiento de nanopartículas incluyen ambientes secos y húmedos, algunos de estos métodos serán descritos posteriormente en el presente documento.
Por otra parte, la microscopía electrónica de transmisión (TEM) es una técnica poderosa para caracterizar la morfología, estructura y composición química de la materia condensada. Las técnicas convencionales de TEM incluyen básicamente tres modos de operación: contraste de difracción (campo claro BF y campo oscuroDF), contraste de fase (alta resolución, HRTEM) y HAADF-STEM. La posibilidad de adquirir imágenes en el modo STEM con electrones de alta energía permite identificar las diferencias en los materiales de distinta composición química. El contraste de imagen química se define como contraste-Z, el peso atómico (elemento) y el contraste de la imagen se relacionan de la siguiente manera: entre mayor sea el peso atómico mayor será la brillantez relativa de la imagen. Esta información generalmente se corrobora mediante un análisis de dispersión de rayos-X, mediante el cual se determina el o los elementos de la zona en cuestión. Estos tres modos de operación proporcionan información sobre la estructura cristalina de los materiales, la morfología, los defectos estructurales y en algunos casos los contrastes-Z, sin embargo, un contraste relativo también puede darse debido al grosor de la muestra, sin ser indicativo del peso atómico. | |
| 2012 | |
| Trabajo terminal, especialidad | |
| QUÍMICA | |
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